VX Instruments auf der SEMICON Taiwan: Präzisionstests für Hochleistungshalbleiter im Fokus

Vom 2. bis 4. September sind wir auf der SEMICON Taiwan in Taipeh vertreten und zeigen dort, wie unsere Testsysteme SiC-, GaN- und Si-Leistungshalbleiter zuverlässig testen – vom ersten Schritt auf der Wafer- bis zur finalen Modulebene. Als Teil des Gemeinschaftsstands von Bayern International können Sie uns am Stand R7112/10 im 4. Stock der TaiNEX 2 finden.

Unter dem Motto „NEXT ERA of High Power Semiconductor Testing“ präsentieren wir, wie sich die Anforderungen an das Testen leistungselektronischer Bauteile mit dem branchenweiten Trend zu Wide-Bandgap-Materialien weiterentwickeln. Im Mittelpunkt unseres Messestands steht das DTS8765neo Dynamic Semiconductor Test System, das wir für hochpräzise dynamische Tests bis 3.000 V / 20.000 A entwickelt haben – mit parasitären Induktivitäten von unter 5 nH und einer effektiven Testzeit (ETT) von weniger als 30 ms.

Die SEMICON Taiwan markiert für uns zugleich einen weiteren Meilenstein: Mit der neu gegründeten VX Instruments Asia Pte. Ltd. in Singapur bauen wir unsere Präsenz in Asien weiter aus und rücken näher an unsere Kunden und Partner in der Region. Mit der neuen Gesellschaft unterstreichen wir unser langfristiges Engagement, den wachsenden asiatischen Halbleitermarkt mit lokaler Expertise und kürzeren Reaktionszeiten zu unterstützen.

Wir freuen uns, Sie auf der SEMICON Taiwan an unserem Stand R7112/10 in der TaiNEX 2 begrüßen zu dürfen. Kommen Sie vorbei, erleben Sie das DTS8765neo live und lassen Sie sich zeigen, wie „Next Era“-Testing in der Praxis aussieht.

SEMICON Taiwan

  • Termin: 2. – 4. September
  • Ort: TaiNEX 2, Taipeh, 4. Stock
  • Stand: R7112/10 (Bavarian Pavillion, Gemeinschaftsstand mit Bayern International)