Testsysteme

Unsere Halbleiter- Testsysteme zeichnen sich durch herausragende Leistung, Präzision und Geschwindigkeit aus – gleichzeitig ermöglicht ihre modulare Architektur die Konfiguration von Systemen, die jede Testanforderung erfüllen, von der Wafer-Level-Charakterisierung bis hin zur endgültigen Modulvalidierung. Jedes System ist darauf ausgelegt, Ihre wachsenden Anforderungen an den Leistungselektroniktest zu unterstützen und dabei in allen Produktionsstufen eine gleichbleibende Genauigkeit und Effizienz zu gewährleisten.

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Statisch

Statisches Halbleiter-Testsystem

STS8760neo Halbleiter-Testsystem

  • Bis zu 3.000 V | 2.400 A > Pulslänge bis hinunter zu 100 µs
  • Genauigkeit bis in den pA-Bereich
  • Optimiert für Highspeed-Produktionstests
  • Modulare Flexibilität
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Dynamisch

Dynamisches Halbleiter-Testsystem

DTS8765 Halbleiter-Testsystem

  • High Performance:  bis zu 2.000 V | 20.000 A
  • Kurze Testzeiten < 500 ms
  • Sehr geringe parasitäre Induktivitäten  bis hinunter zu 5 nH
  • Anpassbares, modulares Design
  • Erweiterbar für statisches UND dynamisches Testen
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Functional Test

LTS8620 Modulares Laser Dioden Testsystem (PXI/PXIe)

  • Modulares PXI Testsystem für den Test und die Qualifizierung von Laserdioden
  • Extrem kurze Strompulse
  • Vollautomatisch (in-line) | halbautomatisch | manuell
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In-Circuit & Functional Testing

GT4210 Modular In-Circuit & Functional Test System

  • Vollautomatisch (in-line) | halbautomatisch | robotergesteuert | manuell
  • Bis zu 4640 Testpunkte
  • 20 Slots (PCI, PXI, PXIe)
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Software

Software

Generic Test Studio

  • Hohe Testgeschwindigkeit
  • Flexible Anpassung
  • Einfache Erstellung von Testprogrammen
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