Statisch

STS8760neo Halbleiter-Testsystem
- Bis zu 10.000 V | 2.400 A > Pulslänge bis hinunter zu 100 µs
- Genauigkeit bis in den pA-Bereich
- Optimiert für Highspeed-Produktionstests
- Modulare Flexibilität
Unsere Halbleiter- Testsysteme zeichnen sich durch herausragende Leistung, Präzision und Geschwindigkeit aus – gleichzeitig ermöglicht ihre modulare Architektur die Konfiguration von Systemen, die jede Testanforderung erfüllen, von der Wafer-Level-Charakterisierung bis hin zur endgültigen Modulvalidierung. Jedes System ist darauf ausgelegt, Ihre wachsenden Anforderungen an den Leistungselektroniktest zu unterstützen und dabei in allen Produktionsstufen eine gleichbleibende Genauigkeit und Effizienz zu gewährleisten.

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