STS8760neo Statisches Halbleiter-Testsystem

System Überblick

Das statische STS8760neo Leistungshalbleiter-Testsystem ist für schnelle und präzise Prüfungen von mittel- bis hochleistungsfähigen Halbleiterbauelementen, wie Dioden, MOSFETs und IGBTs, über einen weiten Spannungsbereich ausgelegt. Es unterstützt eine umfassende Palette an statischen Parameterprüfungen und verfügt über eine modulare PXI-Plattform mit offener Schnittstelle, die zusätzliche Prüfoptionen ermöglicht, darunter DUT-spezifische Widerstandsnetzwerke und Temperatursensoren.

Ihre Vorteile

Kosteneffizient: Besonders schnell und multistation-fähig – sorgt für hohen Durchsatz und senkt die Testkosten.
Präzise: Das 6-Wire und Zero-Leakage Design gewährleisten hochpräzise, konsistente und reproduzierbare Ergebnisse.
Flexibel: Das statische Halbleiter-Testsystem STS8760neo ist einfach rekonfigurierbar mit modularen Instrumentenoptionen für unterschiedliche Testanforderungen.
Skalierbar: Multi-Station- und Multi-Site-Funktionalitäten ermöglichen eine erweiterte Testabdeckung.

Wiederverwendbar: Ausgelegt für die Wiederverwendung zentraler Instrumente und Komponenten.
Nutzerfreundlich: STS8760neo ist einfach durch Bedienpersonal zu bedienen durch intuitive Software.
Schnelle Marktreife: Beschleunigte Testsystem-Konfiguration und Applikationsentwicklung verkürzen die Markteinführungszeit.

Technische Merkmale

Zusatzoptionen

Bis zu 10.000 V | 2.400 A | Puls Länge > 100 µs | Genauigkeit bis in den pA-Bereich

Multi-site und Multi-station Betrieb
Erweiterbare Messfunktonalitäten über PXI und andere Schnittstellen
Optionale Isolationsprüfungen

Highlights

Optimiert für Hochgeschwindigkeits-Produktionstests mit ready-to-run Sequenzierungssoftware
Highspeed Instrumentenschnittstelle
Stressreduktion von Adaptierung und Prüfling durch kurze Pulse dank sehr kurzer Impulsströme (bis zu 2.400 A, 100 μs)
Isolierte Messeinheiten ermöglichen High-Side-Messungen mit außergewöhnlicher Präzision und sorgen für geringe Rauschpegel
Vollständiges Guarding für reduzierte Leckströme und verbesserte Präzision

Geringe parasitäre Induktivität von den Messgeräten zum DUT
Das Design der Hochgeschwindigkeits-Schaltmatrix minimiert die Testzeiten
Verfügbar mit unserer einfach zu bedienenden Testsoftware GT Studio und/oder frei programmierbar
Separate Source Measurement Units (SMUs), die auf hohe Strom- und Spannungsanforderungen zugeschnitten sind
Getrennte Generator und CMU/VMU

Highlights

Unser statisches Halbleiter-Testsystem STS8760neo wurde für Mittel- bis Hochleistungs- Halbleiter-Bauteile entwickelt und kann sowohl nieder- als auch Hochspannungs-DUTs testen. Das hochleistungsfähige Halbleiter Testsystem deckt eine breite Palette an Einsatzbereichen ab und eignet sich insbesondere zur Prüfung von Wide Bandgap Komponenten (SiC, GaN).

Typische DUTs sind u.a.:

Wafer
Bare Die
IGBTs
MOSFETs
Dioden

Testlevel: Molded Module | DCB | Wafer / Bare Die

Tests

Funktionstests | Parametertests | High Power Tests | Parallel

Schematic Overview

Test Kapazitäten (Beispiele)

MOSFETs: RDS(on), DS-Leakage, GS-Leakage, DS-Breakdown according to IEC60747-8 standards
IGBT: CE-ON Voltage, CE-Leakage, GE-Leakage, CE-Breakdown according to IEC60747-9 standards

Messparameter:

Forward voltage
Reverse current
Threshold voltage
Static resistance

Software

Auf all unseren statischen Leistungshalbleiter Testsystemen STS8760neo ist die benutzerfreundliche GT Studio Test-Software bereits vorinstalliert. Sie bringt eine Bibliothek mit vordefinierten Testmethoden mit, sodass Sie Ihre Testprogramme einfach per Drag & Drop zusammenstellen können – ganz ohne Programmieraufwand.
Das System validiert automatisch Programme und Eingaben, verhindert Fehler und sorgt für konsistente, präzise Ergebnisse. Im Gegensatz zu Open-Market-Lösungen, die oft Programmierkenntnisse erfordern und dadurch fehleranfälliger sind, setzt GT Studio auf einfache Bedienung: Testprogramme lassen sich in wenigen Minuten erstellen und flexibel skalieren. Gleichzeitig bleibt die Software offen für individuelle Anpassungen – auch 3rd-Party-Instrumente können integriert werden. Kundenspezifische Tests werden via offener C-DLL API unterstützt.

Ihre Vorteile auf einen Blick

Zeit sparen: Testprogramme in Minuten statt Stunden erstellen
Fehler vermeiden: Automatische Validierung sorgt für zuverlässige Ergebnisse
Kosten senken: Kein Bedarf an zusätzlichem Programmierpersonal
Flexibel bleiben: Leicht skalierbar und offen für 3rd-Party-Integration
Schneller am Markt: Kürzere Entwicklungs- und Testzyklen beschleunigen Ihre Time-to-Market

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BroschüreStand: 05.09.2025 | PDF | 4 MBDatei herunterladen