Halbleiter-Testsystem (dynamisch)

  • Flexibles, modulares Design, z.B. 2.000 V | 10.000 A oder 1.500 V | 20.000 A
  • Extrem niedrige Zwischenkreisinduktivität
  • Erweiterbar für statisches UND dynamisches Testen
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System Überblick

Das dynamische Leistungshalbleiter-Testsystem DTS8765neo wurde speziell für Hochgeschwindigkeits- und Präzisionstests von mittel- bis hochleistungsfähigen Halbleiterbauelementen wie Dioden, MOSFETs und IGBTs über einen weiten Spannungsbereich hinweg entwickelt. DTS8765neo unterstützt eine umfassende Palette dynamischer Parametertests („Safe Operating Area“) und umfasst eine modulare PXI-Plattform mit einer offenen Schnittstelle, die zusätzliche Testoptionen ermöglicht, darunter DUT-spezifische Widerstandsnetzwerke und Temperatursensoren.
Das Halbleitertestsystem kann problemlos erweitert werden, um sowohl dynamische als auch statische Tests auf nur einer Teststation durchzuführen. Sein innovativer Testkopf verfügt über ein anwendungsspezifisches Board, das eine kabellose Kontaktierung der DUTs ermöglicht und so für sehr geringe parasitäre Induktivitäten sorgt.

Ihre Vorteile

  • Leistungsstark: bis zu 2.000 V | 20.000 A, Kurze Testzeiten < 500 ms, minimale Induktivität ≥ 5 nH
  • Kosteneffizient: Integrierte statische Pre-Tests reduzieren Testzeiten und garantieren sehr geringen Cost-per-Test
  • Flexibel: Modulares Design zur Anpassung an Kundenanforderungen, schnelle Integration, einfache Wartung, hohe Teilegleichheit bei Ersatzteilen
  • Wiederverwendbar: Ausgelegt für die Wiederverwendung zentraler Instrumente und Komponenten
  • Handler-unabhängig: Kurze Integrationszeiten für neue Prüflinge (DUTs) und Maschinenlieferanten
  • Sicher: Notabschaltung in weniger als 200 ns
  • Kompakt: geringer Flächenbedarf spart wertvollen Platz

Technische Merkmale

Zusatzoptionen 

Bis zu 2.000 V | 20.000 A | ETT < 500 ms | Parasitäre Induktivität bis hinunter zu 5 nH

 

  • Multi-site und Multi-station Betrieb
  • Erweiterbare Messgeräteoptionen über PXI(e)
  • Optionale statische Parameter Tests (z.B. Idss, Igss, Avalanche, DRB)

Highlights

Flexibilität:

  • Kompatibel mit allen Sequencern
  • Werkzeugloser Produktwechsel für schnelle und einfache Umstellung auf verschiedene DUTs – ideal für gemischte Produktlinien ohne Rüstzeit
  • Modularität – modularer Aufbau, erweiterbar, individualisierbar
  • 19″ Formfaktor für Testkopf-Cartridges

Produktsicherheit:

  • Notabschaltung schützt Kontaktierung und Testsysteme, mit Abschaltfähigkeit in weniger als 200 ns
  • Einstellbare Strombegrenzung bietet zusätzlichen Schutz für die Kontaktierung
  • Integrierter Bypass-Strompfad

Leistungsstärke:

  • Hohe Bandbreite
  • Minimale Induktivität erlaubt den Betrieb nahe an den Produktgrenzen
  • Streuinduktivität bis hinunter zu 5 nH – selbst ohne Snubber-Netzwerk

Kostensenkung:

  • Integrierte statische Vortests senken Kosten und steigern die Flexibilität
  • Kostenoptimierte Lösung auch für neue DUT-Anwendungen

Benutzerfreundlichkeit und Erweiterbarkeit:
Offen für die Integration von Drittanbieter-Instrumenten (z. B. kundenspezifische Oszilloskope)

Einsatzbereiche

Unser Dynamisches Leistungshalbleiter Testsystem DTS8765neo wurde für Mittel- bis Hochleistungs- Halbleiter-Bauteile entwickelt und kann sowohl nieder- als auch Hochspannungs-DUTs testen. Das hochleistungsfähige Halbleiter Testsystem deckt eine breite Palette an Einsatzbereichen ab und eignet sich insbesondere zur Prüfung von Wide Bandgap Komponenten (SiC, GaN).

Typische DUTs sind u.a.

  • MOSFETs
  • Diodes

Testlevel: Module | Discrete | Known Good Die (KGD) | Labor / Characterisierung

DUTs: KGD

Tests

Schematische Übersicht

MOSFETs: nach IEC60747-8 Standards
IGBT: nach IEC60747-9 Standards

RBSOA | FBSOA
E_ON | E_OFF| E_RR | Imax_pulse_ | Udsmax_pulse_x (Highside switch) | Ugsmax_pulse_x (Highside Switch) | Udsmax_pulse_x (Lowside switch) | Ugsmax_pulse_x (Lowside Switch) | du/dt | di/dt

SCSOA
E_ON (Highside Switch) | E_OFF (Lowside Switch) | Imax | Udsmax (Highside Switch) | Ugsmax (Highside Switch) | Udsmax (Lowside Switch) | Ugsmax (Lowside Switch)

DTS8765neo: Hauptkomponenten des Test Systems

Software

Auf all unseren dynamischen Leistungshalbleiter Testsystemen DTS8765neo ist die benutzerfreundliche GT Studio Test-Software bereits vorinstalliert. Sie bringt eine Bibliothek mit vordefinierten Testmethoden mit, sodass Sie Ihre Testprogramme einfach per Drag & Drop zusammenstellen können – ganz ohne Programmieraufwand.
Das System validiert automatisch Programme und Eingaben, verhindert Fehler und sorgt für konsistente, präzise Ergebnisse. Im Gegensatz zu Open-Market-Lösungen, die oft Programmierkenntnisse erfordern und dadurch fehleranfälliger sind, setzt GT Studio auf einfache Bedienung: Testprogramme lassen sich in wenigen Minuten erstellen und flexibel skalieren. Gleichzeitig bleibt die Software offen für individuelle Anpassungen – auch 3rd-Party-Instrumente können integriert werden. Kundenspezifische Tests werden via offener C-DLL API unterstützt.

Ihre Vorteile auf einen Blick

  • Zeit sparen: Testprogramme in Minuten statt Stunden erstellen
  • Fehler vermeiden: Automatische Validierung sorgt für zuverlässige Ergebnisse
  • Kosten senken: Kein Bedarf an zusätzlichem Programmierpersonal
  • Flexibel bleiben: Leicht skalierbar und offen für 3rd-Party-Integration
  • Schneller am Markt: Kürzere Entwicklungs- und Testzyklen beschleunigen Ihre Time-to-Market
GT Studio Test Software
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