Halbleitertest
Halbleiter-Testsystem (statisch)
Märkte:
Test-Methoden:
Handhabung:
Key Features:
Das statische Leistungshalbleiter-Testsystem STS8760 wurde speziell für den Test der gesamten Palette von Halbleiterkomponenten entwickelt. Für Komponenten mit mittlerer und hoher Leistung wie Dioden, MOSFETs oder IGBTs, sowie von Niederspannungs- bis Hochspannungs-DUTs. Das STS stellt alle Instrumente zur Verfügung, um Tests statischer Halbleiterparameter durchzuführen, z.B. RDS(ON), DS-Leakage, GS-Leakage und DS-Breakdown.
Die integrierte PXI-Plattform und die offene Schnittstelle bieten Erweiterungsmöglichkeiten für zusätzliche Testanforderungen wie DUT-spezifische Widerstandsnetzwerke oder Temperatursensoren. Das Testsystem wird mit dem betriebsbereiten GTSoftware-Paket geliefert und ermöglicht eine einfache Programmierung von Testsequenzen (GTbuilder) und eine schnelle Ausführung im Produktions-/Testmodus (GTengine).
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Halbleiter-Testsystem (dynamisch)
Märkte:
Test-Methoden:
Handhabung:
Key Features:
Das dynamische Leistungshalbleiter-Testsystem DTS8765 wurde speziell für den Test der gesamten Palette von Halbleiterkomponenten entwickelt. Für Komponenten mit mittlerer und hoher Leistung wie Dioden, MOSFETs oder IGBTs, sowie von Niederspannungs- bis Hochspannungs-DUTs. Das DTS stellt alle Instrumente zur Verfügung, um Tests dynamischer Halbleiterparameter durchzuführen, z.B. Sättigungs-, Doppelpuls-, Entsättigter und Kurzschlusstest.
Die integrierte PXI-Plattform und die offene Schnittstelle bieten Erweiterungsmöglichkeiten für zusätzliche Testanforderungen wie DUT-spezifische Widerstandsnetzwerke oder Temperatursensoren. Das Testsystem wird mit dem betriebsbereiten GTSoftware-Paket geliefert und ermöglicht eine einfache Programmierung von Testsequenzen (GTbuilder) und eine schnelle Ausführung im Produktions-/Testmodus (GTengine).
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