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Key Features:
Das LTS8620 Testsystem ist ein modulares PXI-Testsystem für den Test und die Qualifizierung von Laserdioden. Das System ist in der Lage extrem kurze Strompulse zu generieren. Dadurch werden Wärmeeinflüsse auf die zu charakterisierende Laserdiode minimiert. Es können auch Messungen an Bare-Die Prüflingen durchgeführt werden. Die Messung der Photo-Stromstärke ist unabhängig von der zu testenden Photodiode möglich. Die mitgelieferte Software basiert auf NI LabVIEW und stellt grundlegende Messungen zur Verfügung, welche vom Anwender individuell angepasst bzw. erweitert werden können.
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Key Features:
Unsere Prüfsysteme basieren auf etablierten Industrie-Standards und lassen sich individuell nach Ihren Anforderungen konfigurieren.
Zudem lassen sich unsere Systeme an wechselnde und neue Herausforderungen ganz einfach und effizient anpassen.
Darüber hinaus sparen unsere Systeme Ihnen Kosten und Platz ein, da sie sowohl Paralleltest-fähig sind als auch den Kombi-Test ermöglichen.
Somit benötigen Sie weniger Prüfadapter, weniger Stellfläche in Ihrer Fertigung, weniger Lagerplatz und vor allem weniger Handlings- und Prüfzeit!
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Key Features:
Das statische Leistungshalbleiter-Testsystem STS8760 wurde speziell für den Test der gesamten Palette von Halbleiterkomponenten entwickelt. Für Komponenten mit mittlerer und hoher Leistung wie Dioden, MOSFETs oder IGBTs, sowie von Niederspannungs- bis Hochspannungs-DUTs. Das STS stellt alle Instrumente zur Verfügung, um Tests statischer Halbleiterparameter durchzuführen, z.B. RDS(ON), DS-Leakage, GS-Leakage und DS-Breakdown.
Die integrierte PXI-Plattform und die offene Schnittstelle bieten Erweiterungsmöglichkeiten für zusätzliche Testanforderungen wie DUT-spezifische Widerstandsnetzwerke oder Temperatursensoren. Das Testsystem wird mit dem betriebsbereiten GTSoftware-Paket geliefert und ermöglicht eine einfache Programmierung von Testsequenzen (GTbuilder) und eine schnelle Ausführung im Produktions-/Testmodus (GTengine).
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Das dynamische Leistungshalbleiter-Testsystem DTS8765 wurde speziell für den Test der gesamten Palette von Halbleiterkomponenten entwickelt. Für Komponenten mit mittlerer und hoher Leistung wie Dioden, MOSFETs oder IGBTs, sowie von Niederspannungs- bis Hochspannungs-DUTs. Das DTS stellt alle Instrumente zur Verfügung, um Tests dynamischer Halbleiterparameter durchzuführen, z.B. Sättigungs-, Doppelpuls-, Entsättigter und Kurzschlusstest.
Die integrierte PXI-Plattform und die offene Schnittstelle bieten Erweiterungsmöglichkeiten für zusätzliche Testanforderungen wie DUT-spezifische Widerstandsnetzwerke oder Temperatursensoren. Das Testsystem wird mit dem betriebsbereiten GTSoftware-Paket geliefert und ermöglicht eine einfache Programmierung von Testsequenzen (GTbuilder) und eine schnelle Ausführung im Produktions-/Testmodus (GTengine).
