Willkommen zur electronica 2026
electronica 2026 | 10.-13. November 2026 | München | Halle A4, Stand A4.317
Ein Partner. Jeder Produktionsschritt. Leistungshalbleitertest vom Wafer bis zum Modul.
Jede neue Generation von Si-, SiC- und GaN-Bauteilen setzt bei Spannung, Strom und Schaltgeschwindigkeit neue Maßstäbe. Ihr Testequipment muss mithalten. Deshalb entwickeln wir Testsysteme, die über die heutigen Anforderungen hinausgehen, damit Ihr nächstes Bauteil nicht an die Grenzen der Testmöglichkeiten stößt.
Entdecken Sie auf der electronica 2026 Testlösungen für jede Phase Ihrer Produktion, vom Wafertest bis zum finalen Modultest. Wir unterstützen Sie entlang der gesamten Halbleiter-Wertschöpfungskette, mit Fokus auf Si-, SiC- und GaN-Leistungshalbleiter: vom Wafer und Known Good Die über diskrete Bauelemente bis hin zu Modulen. Mit unserer Applikationsexpertise finden wir auch für die kniffligsten Testherausforderungen eine Lösung.
Sie haben eine konkrete Frage? Vereinbaren Sie jetzt einen Termin mit unseren Experten an unserem Stand.
Unsere Highlights auf der electronica 2026
High Power Semiconductor Testsysteme
Unsere Testsysteme für Hochleistungshalbleiter decken die gesamte Halbleiter-Wertschöpfungskette ab: vom Wafer bis zum Modul.
Statische und dynamische Tests nach IEC 60747 und AQG 324.
3 Stationen mit Test Applikationen für Leistungshalbleiter
Entdecken Sie drei spannende Beispiele für Test-Applikationen:
Wafer Test, KGD Test, TPAK Test
Vortrag "Opimizing Test Speed to Reduce Test Costs"
Unser Experte Alexander Loibl hält auf dem Measurement Technology Forum der electronica einen spannenden Vortrag darüber, wie sich Testkosten senken lassen.

