VX Instruments auf der electronica 2026

Willkommen zur electronica 2026

electronica 2026 | 10.-13. November 2026 | München | Halle A4, Stand A4.317

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Ein Partner. Jeder Produktionsschritt. Leistungshalbleitertest vom Wafer bis zum Modul.

Jede neue Generation von Si-, SiC- und GaN-Bauteilen setzt bei Spannung, Strom und Schaltgeschwindigkeit neue Maßstäbe. Ihr Testequipment muss mithalten. Deshalb entwickeln wir Testsysteme, die über die heutigen Anforderungen hinausgehen, damit Ihr nächstes Bauteil nicht an die Grenzen der Testmöglichkeiten stößt.
Entdecken Sie auf der electronica 2026 Testlösungen für jede Phase Ihrer Produktion, vom Wafertest bis zum finalen Modultest. Wir unterstützen Sie entlang der gesamten Halbleiter-Wertschöpfungskette, mit Fokus auf Si-, SiC- und GaN-Leistungshalbleiter: vom Wafer und Known Good Die über diskrete Bauelemente bis hin zu Modulen. Mit unserer Applikationsexpertise finden wir auch für die kniffligsten Testherausforderungen eine Lösung.

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Semiconductor Value Chain

Unsere Highlights auf der electronica 2026

High Power Semiconductor Testsysteme

Unsere Testsysteme für Hochleistungshalbleiter decken die gesamte Halbleiter-Wertschöpfungskette ab: vom Wafer bis zum Modul.
Statische und dynamische Tests nach IEC 60747 und AQG 324.

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3 Stationen mit Test Applikationen für Leistungshalbleiter

Entdecken Sie drei spannende Beispiele für Test-Applikationen:
Wafer Test, KGD Test, TPAK Test

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Vortrag "Opimizing Test Speed to Reduce Test Costs"

Unser Experte Alexander Loibl hält auf dem Measurement Technology Forum der electronica einen spannenden Vortrag darüber, wie sich Testkosten senken lassen.

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Drei Stationen. Drei Test Herausforderungen. Ein Partner. 

Jedes Bauteil stellt eigene Anforderungen an den Test. Ein Wafer braucht eine andere Kontaktierung als ein einzelner Bare Die, ein TPAK oder ein Modul, ebenso wie spezifische Tests und entsprechende Parameter.
An drei Stationen zeigen wir Anwendungsbeispiele entlang der Wertschöpfungskette, jeweils mit dem Bauteil und der passenden Kontaktierung. Unsere Applikationsexperten erklären Ihnen vor Ort, worauf es bei jedem dieser Tests ankommt. Vor allem aber nehmen sie sich Zeit für Ihre eigene Testaufgabe: Bringen Sie Ihre Fragen mit, wir besprechen gemeinsam, wie wir sie lösen können.

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Wafer Test

  • Weniger Fehlausschuss guter Dies
  • Höchste Messgenauigkeit im Serientest
  • Konsistente Daten bis zum Modultest

KGD Test

  • Sicherer Test ohne Schäden an der Kontaktierung
  • Statisch, dynamisch, ambient und heiß auf einer Plattform
  • Isotherme Pulse ohne Eigenerwärmung des Dies

TPAK Test

  • Zuverlässigkeit unter realen Einsatzbedingungen
  • Si, SiC, GaN auf einer Plattform
  • Investitionssicherheit durch modulare Plattform

Leistungshalbleiter-Testsysteme für all Ihre Testherausforderungen

Schnell, präzise und leistungsstark: Unsere modularen Halbleitertestsysteme werden exakt nach Ihren Anforderungen konfiguriert, von der Charakterisierung auf Wafer-Ebene bis zur finalen Modulvalidierung. Wenn sich Ihre Testanforderungen in der Leistungselektronik weiterentwickeln, wächst Ihr System einfach mit. Genauigkeit und Effizienz bleiben dabei in jeder Produktionsphase gleich hoch.
Eine Testplattform für die gesamte Halbleiter-Wertschöpfungskette: statisch und dynamisch, nach IEC 60747 und AQG 324.

Experten Vortrag auf dem Measurement Technology Forum 

12. November 2026 | 16:30 – 17:00 h | Halle A5, Stand A5.260

Alexander Loibl - our expert for static semiconductor testsystems

Optimizing Test Speed to reduce Test Costs for SiC/GaN Power Devices

Testkosten sind eine der größten Herausforderungen in der Fertigung von SiC- und GaN-Leistungshalbleitern, und die Testgeschwindigkeit ist der stärkste Hebel, um sie zu senken. In seinem Vortrag zeigt Alexander Loibl, dass die Softwarearchitektur des Testsystems dabei den Ausschlag gibt. Ihre vier Säulen sind Ressourcenmanagement, Pfadermittlung, Parameterverwaltung und das Testprogramm selbst. In einem Multithreading-Ansatz kombiniert, ermöglichen sie deutliche Steigerungen der Testgeschwindigkeit und senken die Testkosten.

Verpassen Sie diesen Vortrag nicht und gewinnen Sie wertvolle Einblicke in ein spannendes Thema.
Und wenn Sie tiefer einsteigen möchten, setzen wir das Gespräch gerne an unserem Stand fort.

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