Wir erweitern unser Produktportfolio um das LTS8620 Laserdioden Testsystem. Es handelt sich um ein integriertes PXI Testsystem für die umfangreiche Charakterisierung von Laserdioden anhand ihrer LIV-Kennlinien. Weiterhin kann das System für schnelle Tests in der Produktion eingesetzt werden.

Durch die extrem kurzen Pulszeiten, beginnend bei 2 µs, werden Wärmeeinflüsse auf den zu charakterisierenden Laser minimiert. Damit sind auch Messungen an Bare-Die Prüflingen möglich.
Mit diesem System sind aktuell Ströme bis 250 mA und die Messung aller Parameter, mit einer Auflösung von 16 Bit und einer Sample Rate von bis zu 100 MS/s möglich. Zwei zusätzliche, unabhängige Kanäle zum Anschluss von Photo-Dioden ermöglichen umfangreiche Messungen.

Das LTS8620 besteht aus einer Kombination von Standard PXI Instrumenten (Embedded Controller, Arbiträrgenerator, Waveform Digitizer, PXI SMU) und einer, für den speziellen Anwendungsfall entwickelten, Adapter-Box (LTA8602). Um externe Störeinflüsse zu minimieren, kann die Adapter-Box sehr nahe am Prüfling platziert werden. Die Verbindung zum Testsystem selbst erfolgt über Standardkabel.

Das System ist vom Anwender frei programmierbar und ein Anwendungsbeispiel in LabVIEW steht zur Verfügung.