Die PCIM 2026 ist vor\u00fcber – und sie hat gezeigt, wo die Branche gerade steht: Wide-Bandgap-Halbleiter, allen voran SiC und GaN, bestimmen die Diskussion. H\u00f6here Spannungen, schnellere Schaltfrequenzen, kompaktere Bauformen – und damit wachsende Anforderungen an die Qualifizierung der Bauelemente.<\/p>\n
KGD-Testing (Known Good Die) ist die Antwort der Industrie: Jeder nackte Die wird vor dem Packaging vollst\u00e4ndig elektrisch charakterisiert – bevor er in einem EV-Inverter, einem Industrieantrieb oder einer Anlage zur erneuerbaren Energieerzeugung seinen Dienst tut.
\nUnser dynamisches Testsystem DTS8765neo ist genau f\u00fcr diese Aufgabe entwickelt: bis zu 3.000 V, 20.000 A, Testzeiten bis hinunter zu 200 ms und eine parasit\u00e4re Induktivit\u00e4t bis hinunter zu 5 nH – Voraussetzungen, um Double Pulse Tests und Short Circuit Tests mit der n\u00f6tigen Pr\u00e4zision durchzuf\u00fchren, ohne den DUT oder die Kontaktierung zu gef\u00e4hrden. Am PCIM-Messestand f\u00fchrten diese Spezifikationen zu genau den Gespr\u00e4chen, die z\u00e4hlen: engagierte Besucher, technische Diskussionen auf Augenh\u00f6he, Kontakte, die wir weiterverfolgen werden.<\/p>\n
Zwei besondere Momente am Rande des Stands: Alexander Loibl pr\u00e4sentierte einen spannenden Vortrag zum Thema „Pico- und Kiloampere Measurements in Milliseconds“ auf der Technology Stage \u2014 ein starkes Format f\u00fcr einen starken Vortrag. Und unsere Pr\u00e4senz am ECPE-Gemeinschaftsstand hat einmal mehr gezeigt, welchen Wert dieses Netzwerk f\u00fcr die Branche hat.<\/p>\n
Ein gro\u00dfes Dankesch\u00f6n gilt unserem Messte\u00acam f\u00fcr den reibungslosen Auftritt sowie unserem Partner Cohu – f\u00fcr die Unterst\u00fctzung mit einer SiC HV Power Probecard und einem Power KGD Probehead und f\u00fcr eine starke Zusammenarbeit vor Ort.<\/p>\n\n\t\t