{"id":5038,"date":"2026-05-18T10:54:09","date_gmt":"2026-05-18T10:54:09","guid":{"rendered":"https:\/\/vxinstruments.com\/?p=5038"},"modified":"2026-05-18T12:53:14","modified_gmt":"2026-05-18T12:53:14","slug":"next-level-high-power-wbg-semiconductor-testing-auf-der-pcim-europe-2026","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/vxinstruments.com\/de\/next-level-high-power-wbg-semiconductor-testing-auf-der-pcim-europe-2026\/","title":{"rendered":"Next Level High Power WBG Semiconductor Testing auf der PCIM Europe 2026"},"content":{"rendered":"<p>Die PCIM Expo ist eine der f\u00fchrenden internationalen Fachmessen f\u00fcr Leistungselektronik &#8211; und wir sind dabei!<br \/>\nBesuchen Sie uns in <strong>Halle 4, Stand 305<\/strong> und erleben Sie, wie moderne Testtechnologie steigende Anforderungen in SiC, GaN und High Power Halbleiteranwendungen unterst\u00fctzt.<\/p>\n<p class=\"big-text\"><strong><span style=\"color: #00929c;\">Fokus auf Performance entlang der gesamten Testkette<\/span><\/strong><\/p>\n<p>Wide Bandgap Halbleiter treiben die n\u00e4chste Generation effizienter Leistungselektronik voran. Gleichzeitig steigen die Anforderungen an Charakterisierung, Validierung und Produktionstest.<br \/>\nUnser Messemotto bringt diese Entwicklung auf den Punkt:<br \/>\n<strong>Next Level High Power WBG Semiconductor Testing<\/strong><br \/>\nAuf der PCIM zeigen wir, wie moderne Testsysteme die gesamte Wertsch\u00f6pfungskette mit einer skalierbaren Plattform abdecken k\u00f6nnen, vom fr\u00fchen Wafer Level Test bis zur finalen Pr\u00fcfung von Power Modulen.<\/p>\n<p class=\"big-text\"><span style=\"color: #00929c;\"><strong>Unsere Ausstellungshighlights<\/strong><\/span><\/p>\n<p><strong>STS8760neo<\/strong><br \/>\nUnser statisches Halbleitertestsystem f\u00fcr pr\u00e4zise elektrische Charakterisierung, Parametermessung und produktionsnahe Testaufgaben.<br \/>\nDie technischen Highlights: Bis zu 3000 V | 2400 A | Pulsdauer bis hinunter zu 100 \u03bcs | Pr\u00e4zision bis hinunter in den pA-Bereich<\/p>\n<p><strong>DTS8765neo<\/strong><br \/>\nDynamisches Halbleitertestsystem f\u00fcr Schaltanalysen, transientes Verhalten und Pr\u00fcfungen unter realistischen Lastbedingungen.<br \/>\nDie technischen Highlights: bis zu 2000 | 20000 A, geringe Testzeiten &lt; 500 ms | parasit\u00e4re Induktivit\u00e4t \u2265 5 nH<\/p>\n<p><strong>Ihre Vorteile:<\/strong><\/p>\n<ul>\n<li>exzellente Messpr\u00e4zision<\/li>\n<li>hoher Testdurchsatz<\/li>\n<li>stabile und reproduzierbare Ergebnisse<\/li>\n<li>skalierbare Integration in bestehende Prozesse<\/li>\n<li>Flexibilit\u00e4t f\u00fcr zuk\u00fcnftige Bauteiltechnologien<\/li>\n<\/ul>\n<p class=\"big-text\"><span style=\"color: #00929c;\"><strong>Ein Systemkonzept vom Wafer bis zum Power Modul<\/strong><\/span><\/p>\n<p>Viele Hersteller arbeiten mit getrennten Testumgebungen f\u00fcr unterschiedliche Prozessschritte. Das erh\u00f6ht h\u00e4ufig Komplexit\u00e4t, Schnittstellenaufwand und Abstimmungsbedarf.<br \/>\nUnser Ansatz ist anders: Eine abgestimmte Systemplattform f\u00fcr Tests von:<\/p>\n<ul>\n<li>Wafer Level<\/li>\n<li>KGD<\/li>\n<li>diskreten Halbleitern<\/li>\n<li>packaged Components, z.B. TPAK<\/li>\n<li>Power Modulen<\/li>\n<\/ul>\n<p>Das reduziert Reibungsverluste im Prozess, verbessert die Datenkonsistenz und steigert die Effizienz.<\/p>\n<p><span style=\"color: #00929c;\"><strong>Treffen Sie unser Team in N\u00fcrnberg<\/strong><\/span><br \/>\nOb Durchsatzsteigerung, Yield Optimierung, Messwiederholbarkeit oder Teststrategien f\u00fcr die n\u00e4chste Generation von SiC und GaN Bauteilen, wir freuen uns auf den Austausch mit Ihnen.<br \/>\n<strong>Besuchen Sie uns in Halle 4, Stand 305.<\/strong><\/p>\n<p><a class=\"button\" href=\"https:\/\/vxinstruments.com\/de\/messe-tickets-pcim\/\">Gleich kostenloses Messeticket bestellen!<\/a><\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Die PCIM Expo ist eine der f\u00fchrenden internationalen Fachmessen f\u00fcr Leistungselektronik &#8211; und wir sind dabei! 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