Wir wurden erneut vom Fachmagazin Semiconductor Review ausgezeichnet!
\nVon Elektroautos bis hin zu Windr\u00e4dern \u2013 Leistungshalbleiter sind in der heutigen Zeit nicht mehr wegzudenken \u2013 und der Bedarf w\u00e4chst. Mit zunehmender Komplexit\u00e4t dieser Komponenten steigen auch die Anforderungen an ihre Pr\u00fcfung. Wir haben mit unserem statischen Testsystem STS8760neo eine modulare Plattform entwickelt, die es Halbleiter-Herstellern erm\u00f6glicht, den steigenden Anforderungen gerecht zu werden und sich flexibel auf neue Herausforderungen im Test-Bereich einzustellen.<\/p>\n
Hierf\u00fcr wurden wir von der Fachzeitschrift Semiconductor Review Europe mit dem Award „Top Semiconductor Test Solutions in Europe 2025“ ausgezeichnet. In der aktuellen Ausgabe berichtet das Magazin ausf\u00fchrlich \u00fcber unseren STS8760neo.<\/p>\n
„Wir k\u00f6nnten nicht stolzer \u00fcber diese Auszeichnung sein“, freut sich Christian Degenhart, Gesch\u00e4ftsf\u00fchrer von VX Instruments. „Unser STS87760neo steht nicht nur f\u00fcr extrem kurze Testzeiten und pr\u00e4zise Testergebnisse, er erm\u00f6glicht auch eine nie dagewesene Flexibilit\u00e4t beim Testen von Leistungshalbleitern. Durch den modularen Aufbau k\u00f6nnen neue Testszenarien eingef\u00fchrt werden, ohne dass es einer umfassenden technischen Umr\u00fcstung bedarf. Dadurch k\u00f6nnen Unternehmen ihre Go-to-market Zeit erheblich verk\u00fcrzen und sind auch f\u00fcr k\u00fcnftige Test-Herausforderungen bestens ger\u00fcstet“.<\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"
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