Modulares Funktions- und In-Circuit- Testsystem

  • Tests: Boundary-Scan | Multi-Station | In-Circuit | Funktion | Parmeter | Flashing | Parallel
  • Vollautomatisch (in-line) | halbautomatisch | robotergesteuert | manuell
  • Bis zu 4640 Testpunkte
  • 20 Slots (PCI, PXI, PXIe)
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System Übersicht

Unsere Prüfsysteme basieren auf etablierten Industrie-Standards und lassen sich individuell nach Ihren Anforderungen konfigurieren. Zudem lassen sich unsere Systeme an wechselnde und neue Herausforderungen ganz einfach und effizient anpassen.

Darüber hinaus sparen unsere Systeme Ihnen Kosten und Platz ein, da sie sowohl Paralleltest-fähig sind als auch den Kombi-Test ermöglichen. Somit benötigen Sie weniger Prüfadapter, weniger Stellfläche in Ihrer Fertigung, weniger Lagerplatz und vor allem weniger Handlings- und Prüfzeit!

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